19.04.2024
SN74LVTH182502APMR
Маркировка
SN74LVTH182502APMR
Описание
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Производитель
Характеристики SN74LVTH182502APMR
-
Серия74LVTH
-
ПроизводительTexas Instruments
-
Logic TypeABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
-
Supply Voltage2.7 V ~ 3.6 V
-
Number of Bits18
-
Рабочая температура-40°C ~ 85°C
-
Тип монтажаSurface Mount
-
Исполнение / Корпус64-LQFP
-
УпаковкаTape & Reel (TR)
-
Supplier Device Package
Полная характеристикаСкрыть
Новости электроники
18.04.2024
17.04.2024