SN74LVTH182502APMR

Маркировка

SN74LVTH182502APMR

Описание

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Производитель

Texas Instruments

Характеристики SN74LVTH182502APMR

  • Серия
    74LVTH
  • Производитель
    Texas Instruments
  • Logic Type
    ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • Supply Voltage
    2.7 V ~ 3.6 V
  • Number of Bits
    18
  • Рабочая температура
    -40°C ~ 85°C
  • Тип монтажа
    Surface Mount
  • Исполнение / Корпус
    64-LQFP
  • Упаковка
    Tape & Reel (TR)
  • Supplier Device Package
Полная характеристикаСкрыть

Новости электроники

Еще новости


Подписаться на новости

Хотите интересные новости электроники? Подпишитесь на рассылку наших новостей.