Keysight представляет инструмент для проверки проволочных соединений в производстве полупроводников
Новый Electrical Structural Tester (EST) компании Keysight повышает надежность и производительность электронных компонентов путем проверки проволочных соединений.
Компания Keysight Technologies представила Electrical Structural Tester (EST) — инновационную систему проверки проволочных соединений, предназначенную для полупроводникового производства, которая значительно повышает надежность и структурную целостность электронных компонентов.
Полупроводниковый сектор сталкивается с рядом сложностей при тестировании из-за растущей сложности микросхем, которые используются в таких критически важных отраслях, как автомобилестроение и здравоохранение. Существующие методы часто не позволяют выявить дефекты соединения проводов, что может привести к скрытым отказам. Более того, традиционные методы тестирования основаны на выборочных проверках, что увеличивает вероятность пропуска критических дефектов.
EST решает эти задачи с помощью передовой технологии nano Vectorless Test Enhanced Performance (nVTEP), которая создает емкостную структуру между проволочной связью и сенсорной пластиной. Это позволяет выявлять такие проблемы, как провисание проволоки, короткое замыкание и блуждающие провода, обеспечивая более точную и всестороннюю оценку качества соединений.
Основные преимущества EST включают:
- Превосходное обнаружение дефектов: Система отслеживает изменения емкостной связи, что позволяет выявлять широкий спектр дефектов как электрической, так и механической природы. Это помогает поддерживать высокую надежность электронных компонентов.
- Высокая производительность: EST поддерживает тестирование до 72 000 устройств в час и может одновременно проверять до 20 интегральных схем. Это делает систему идеальной для применения в условиях массового производства.
- Интеграция с большими данными: Инструмент использует такие методы, как предельный повторный тест (MaRT), динамический тест усреднения деталей (DPAT) и тест усреднения деталей в реальном времени (RPAT). Это позволяет быстро собирать и анализировать данные о дефектах, что повышает общую производительность производства.
По заявлению Keysight, EST помогает производителям микросхем повысить эффективность за счет быстрого обнаружения дефектов соединения проводов. Это способствует обеспечению высочайшего качества и надежности продукции в массовом производстве. Данный тестер является примером стремления компании решать критически важные задачи в процессе производства электронных компонентов.
Electrical Structural Tester будет представлен на выставке SEMICON Taiwan 2024, которая пройдет с 4 по 6 сентября 2024 года в выставочном центре Taipei Nangang, зал 1, на стенде компании Keysight (K3283).
Подписаться на почтовую рассылку / Авторам сотрудничество