Конфигурируемые системы технического диагностирования сократят затраты на тестирование

Компания National Instruments (NI) разработала набор программных и аппаратных средств, включающих серию систем Semiconductor Test System (STS). Серия STS состоит из конфигурируемых систем технического диагностирования, способных сократить затраты на тестирование и характеризацию полупроводниковых компонентов в рамках производственного процесса.

Серия STS, построенная на модульных средствах NI PXI и расширенных вычислительных, а также инструментальных мощностях, позволит инженерам по тестированию развивать методы испытаний и достигать соответствия требованиям к испытаниям при меньших финансовых и временных затратах. В отличие от традиционных систем ATE, в серии STS сочетаются модульные инструментальные средства с графической средой для системного проектирования, что особенно важно при испытании радиочастотных компонентов, гибридных цепей.

По словам представителя National Instruments, по мере роста затрат на техническое диагностирование и повышения сложности полупроводниковых технологий традиционные системы ATE подходят к пику своих возможностей. Используя систему STS, инженеры получают преимущества открытой и масштабируемой платформы, которая может быть полностью интегрирована в их производственную среду. Система способствует значительной экономии средств и росту производства.