Система для испытания нового поколения чипов драйверов дисплея

Корпорация Advantest представила систему для испытания нового поколения чипов драйверов дисплеев с высоким разрешением и тестирования их встроенных функций. Согласно разработчикам, система T6391 нацелена на 3 ключевых тренда современных чипов драйверов дисплея: рост числа выводов в таких компонентах, возрастающую скорость работы интерфейсов и высокий уровень интеграции разнообразных функций.

Система T6391, являясь членом семейства решений T6300, выполнена по прежней технической модели, задействованной в предыдущих 1500 продуктах серии. Используется прежний язык программирования (TDL), а скорость работы повышена за счёт ускорения расчетов и пересылок данных.

Высокоскоростная шина системы позволяет добиться больших темпов испытания. Имея 512 каналов ввода/вывода, система T6391 способна тестировать множество чипов одновременно. Количество выводов испытываемых чипов может достигать 3584. Этого достаточно для тестирования драйверов, работающих с форматом HD, HD720, WXGA.

Система T6391 способна работать с частотой выводов чипов до 1,6 Гбит/с, что позволяет испытывать интерфейс MIPI, являющийся стандартным протоколом в мобильной электронике. Дополнительный модуль даёт возможность тестировать и более быстрые интерфейсы со скоростью до 6,5 Гбит/с. Подобные интерфейсы будут использоваться в драйверах нового поколения для дисплеев с разрешением ultra-HD (в том числе 4К).

Наличие функции цифрового захвата и генератора сигналов произвольной формы (AWG) позволяет тестировать аналоговые чипы. Генераторы сканирующих (SCPG) и алгоритмических (ALPG) шаблонов, а также модуль сбоев адресации памяти (AFM) дают возможность тестировать и сканировать память драйверов с поддержкой сенсорных дисплеев.

Коммерческий доступ к системе T6391 стартует в конце текущего года.